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陶瓷電容器二次篩選服務簡介

“陶瓷電容器二次篩選”是指在原廠出廠檢驗之外，對陶瓷電容器進行更加嚴格的外觀、性能、可靠性等復檢流程，確保產(chǎn)品批次的一致性和高可靠性。優(yōu)科檢測認證作為專業(yè)第三方電子元器件篩選機構，具備CNAS認可資質(zhì)和豐富的檢測經(jīng)驗，可提供從樣品收發(fā)、篩選測試、數(shù)據(jù)分析到報告出具的一站式服務，滿足軍工、航天、軌道交通、電力等各行業(yè)對陶瓷電容器高可靠性的需求。

陶瓷電容器二次篩選目的及原理

1. 目的

   - 消除生產(chǎn)批次中因材料、工藝導致的隱蔽缺陷；

   - 降低失效率，提升系統(tǒng)整體可靠性；

   - 滿足高可靠應用對電參數(shù)及機械性能的嚴苛要求。

2. 原理

   - 通過加速應力試驗（溫度沖擊、電壓老練等），加速潛在失效機理的發(fā)生；

   - 對比試驗前后電參數(shù)變化，剔除壽命不達標或性能漂移超限的元件；

   - 非破壞性檢測（X射線、聲學顯微）結合破壞性測試，全面評估內(nèi)部結構及可靠性。

陶瓷電容器二次篩選依據(jù)標準

- GJB7243?2011《軍用電子元器件篩選技術要求》：規(guī)范了軍用級電子元件的二次篩選級別、試驗項目和判定準則；

- GJB4157A?2011《高可靠瓷介固定電容器通用規(guī)范》：詳細規(guī)定了高可靠性陶瓷固定電容器的材料、結構和性能測試要求；

- GJB360B?2009《電子及電氣元件試驗方法》：包含溫度沖擊（方法107）、高溫壽命（方法108）等典型加速應力試驗方法和條件。

陶瓷電容器二次篩選項目及方法

1. 外觀檢查

- 篩選條件：使用10×放大鏡或顯微鏡，檢查標志、封裝裂紋、端子缺陷，必須符合產(chǎn)品規(guī)范和客戶技術協(xié)議。

2. 電參數(shù)初測

- 測量參數(shù)：電容量(C)、損耗角正切(tanδ)、介質(zhì)耐電壓(VR)、絕緣電阻(IR)

- 條件：室溫(23?±?5)℃、相對濕度(45?±?15)%RH 下測量

3. 溫度沖擊

- 方法：GJB360B?2009 方法107

- 條件：–55℃ ? 125℃ 循環(huán)，Ⅰ級25次、Ⅱ級10次，速率10℃/min；級別根據(jù)客戶要求和標準選擇

4. 電壓老練（高溫壽命）

- 方法：GJB360B?2009 方法108

- 條件：

  - Ⅰ級：125℃，2倍額定電壓，168?h

  - Ⅱ級：125℃，2倍額定電壓，96?h

  - Ⅲ級：125℃，2倍額定電壓，48?h

5. 電參數(shù)終測

- 測量參數(shù)：同初測項目

- 判定：與初測值對比，電容量變化率≤±5%，tanδ變化≤0.002，IR≥原值的10×或VR耐壓無擊穿

6. X射線檢查／聲學顯微

- 篩選條件：

  - Ⅰ級：強制檢測內(nèi)部裂紋、空洞；

  - Ⅱ級：可選；

  - Ⅲ級：無要求

- 判定：無貫穿性裂紋、空洞比例不超過標準閾值

7. 計算PD（功率衰減）

- 根據(jù)電壓老練數(shù)據(jù)，計算電容器在不同溫度、電壓下的損耗功率，評估老化趨勢

8. PDA（概率失效率分析）

- 篩選條件：

  - Ⅰ級：≤5% 剔除率

  - Ⅱ級：≤15%

  - Ⅲ級：≤20%

- 說明：結合初／終測及加速試驗數(shù)據(jù)，統(tǒng)計失效率并對批次進行分級判斷

陶瓷電容器二次篩選報告辦理流程

1. 樣品接收與確認：填寫樣品交付單，確認型號、數(shù)量、級別要求。

2. 項目確認與報價：根據(jù)測試項和批次規(guī)模出具報價單與技術協(xié)議。

3. 篩選執(zhí)行：按確認的項目流程開展檢測，實時記錄測試數(shù)據(jù)。

4. 數(shù)據(jù)分析與評審：整理初測、老練、終測及檢測報告草稿，組織技術評審會。

5. 報告出具與交付：生成正式篩選報告，含試驗記錄、結論及建議；郵寄/快遞或PDF電子版交付。

6. 售后跟進：根據(jù)客戶需求提供數(shù)據(jù)解讀、后續(xù)篩選升級建議或失效分析支持。