文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2023-09-19 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測(cè)認(rèn)證是具備AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)能力和CNCA發(fā)證資質(zhì)的AEC-Q100認(rèn)證公司，可提供IC集成電路AEC-Q100認(rèn)證服務(wù)。
AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，主要是針對(duì)車載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計(jì)出的一套應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范對(duì)于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。
AEC-Q100有四個(gè)溫度等級(jí)：0，1，2，3。其中0為最高級(jí)別，相應(yīng)的溫度區(qū)間為-40°C-150°C。若能達(dá)到0級(jí)要求則代表產(chǎn)品可以用于汽車各個(gè)部件。
溫度范圍是AEC-Q100核心標(biāo)準(zhǔn)之一。
車用一次性內(nèi)存、電源降壓穩(wěn)壓器、車用光電耦合器、三軸加速規(guī)傳感器、視訊譯碼器、整流器、環(huán)境光傳感器、非易失性鐵電存儲(chǔ)器、電源管理IC、嵌入式閃存、DC/ DC穩(wěn)壓器、車規(guī)網(wǎng)絡(luò)通訊設(shè)備、液晶驅(qū)動(dòng)IC、單電源差動(dòng)放大器、電容接近式開關(guān)、高亮度LED驅(qū)動(dòng)器、異步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS高級(jí)駕駛員輔助系統(tǒng)芯片、GNSS接收器、GNSS前端放大器等。
類似于一般汽車零部件的DV測(cè)試，AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)其實(shí)也就是一種對(duì)芯片本身的設(shè)計(jì)認(rèn)可的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，分為不同的測(cè)試序列，對(duì)芯片進(jìn)行不同維度的測(cè)試。
AEC-Q100一共分為13個(gè)子標(biāo)準(zhǔn)，分別是AEC-Q100主標(biāo)準(zhǔn)和從001到012的12個(gè)子標(biāo)準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) | 標(biāo)準(zhǔn)名 | 中文含義 |
AEC-Q100 Rev-H | Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits(base document | 基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理 |
AEC-Q100-001 | Wire Bond Shear Test | 邦線切應(yīng)力測(cè)試 |
AEC-Q100-002 | Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test | 人體模式靜電放電測(cè)試 |
AEC-Q100-003 | Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test | 機(jī)械模式靜電放電測(cè)試 |
AEC-Q100-004 | IC Latch-Up Test | 集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試 |
AEC-Q100-005 | Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test | 非易失性存儲(chǔ)程序/擦除耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測(cè)試 |
AEC-Q100-006 | Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL) | 熱電效應(yīng)引起的寄生門極漏電流測(cè)試 |
AEC-Q100-007 | Fault Simulation and Test Grading | 故障仿真和測(cè)試等級(jí) |
AEC-Q100-008 | Early Life Failure Rate (ELFR) | 早期壽命失效率 |
AEC-Q100-009 | Electrical Distribution Assessment | 電分配的評(píng)估 |
AEC-Q100-010 | Solder Ball Shear Test | 錫球剪切測(cè)試 |
AEC-Q100-011 | Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test | 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試 |
AEC-Q100-012 | Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems | 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述 |
AEC-Q100詳細(xì)規(guī)定了一系列的測(cè)試，同時(shí)定義了應(yīng)力測(cè)試驅(qū)動(dòng)型認(rèn)證的最低要求以及IC認(rèn)證的參考測(cè)試條件。這些測(cè)試包括7個(gè)測(cè)試群組：
測(cè)試群組A (環(huán)境壓力加速測(cè)試，Accelerated Environment Stress)
測(cè)試群組B (使用壽命模擬測(cè)試，Accelerated Lifetime Simulation)
測(cè)試群組C (封裝組裝整合測(cè)試，Package Assembly Integrity)
測(cè)試群組D (芯片晶圓可靠度測(cè)試，Die Fabrication Reliability)
測(cè)試群組E (電氣特性確認(rèn)測(cè)試，Electrical Verification)
測(cè)試群組F (瑕疵篩選監(jiān)控測(cè)試，Defect Screening)
測(cè)試群組G (封裝凹陷整合測(cè)試，Cavity Package Integrity)
對(duì)于每個(gè)測(cè)試群組中的詳細(xì)測(cè)試項(xiàng)目，在AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)中有詳細(xì)的描述，并且每種測(cè)試的測(cè)試時(shí)間也根據(jù)Grade等級(jí)給出了不同的要求。在AEC-Q100的測(cè)試中，對(duì)于序列A中，測(cè)試的樣品數(shù)很多都是77個(gè)，并且要求0 Fails，這就極大得增加了芯片測(cè)試的置信度。
AEC-Q100認(rèn)證主要用于預(yù)防產(chǎn)品可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，引導(dǎo)零部件供貨商在開發(fā)的過程中就能采用符合該規(guī)范的芯片。AEC-Q100對(duì)每一個(gè)芯片個(gè)案進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，確認(rèn)制造商所提出的產(chǎn)品數(shù)據(jù)表、使用目的、功能說明等是否符合最初需求的功能，以及在連續(xù)使用后功能與性能是否能始終如一。
AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的目標(biāo)是提高產(chǎn)品的良品率，這對(duì)芯片供貨商來說，不論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰(zhàn)。不管是投標(biāo)還是占領(lǐng)市場(chǎng)，要想盡早進(jìn)入汽車領(lǐng)域并且立足，AEC-Q100系列認(rèn)證都將會(huì)是車規(guī)芯片認(rèn)證的首選。
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